Jia Q.X., Wang H., Stan L., Civale L., Maiorov B., Zhou H., Harrington S., Wimbush S., MacManus-Driscolll J.L., Durrell J.L.
Ключевые слова: HTS, coated conductors, YBCO, defects, grain alignment, microstructure, critical current density, thickness dependence, critical caracteristics, strain effects, pinning, Jc/B curves, angular dependence, MOD process, nanodots, magnetization, magnetic properties, critical caracteristics, experimental results, presentation, fabrication
© Copyright 2006-2012. Использование материалов сайта возможно только с обязательной ссылкой на сайт.
Свои замечания и пожелания вы можете направлять по адресу perst@isssph.kiae.ru
Техническая поддержка Alexey, дизайн Teodor.